一种包括光源阵列的光学检测装置
基本信息
申请号 | CN201810814330.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN108918418A | 公开(公告)日 | 2018-11-30 |
申请公布号 | CN108918418A | 申请公布日 | 2018-11-30 |
分类号 | G01N21/01;G01N21/84 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 邵科 | 申请(专利权)人 | 江苏景源泓科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 214400 江苏省无锡市江阴市金山路201号创智产业园数码港B座5楼 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种包括光源阵列的光学检测装置,所述光源阵列包括多个可单独电控制的电光源,这些电光源以矩阵结构或任何其他限定的几何布置排列,有利地,光源阵列的像素间距小于500纳米。本发明的一种包括光源阵列的光学检测装置,其允许具有较低复杂光学系统的“正常”(衍射受限)光学分辨率光学和超分辨率,并且可以用较少复杂光学系统实现超分辨率。 |
