芯片量产测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201711279899.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107831428B | 公开（公告）日 | 2020-08-07 |
| 申请公布号 | CN107831428B | 申请公布日 | 2020-08-07 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 孙浩涛;田军;贾红;程显志;陈维新;韦嶔 | 申请（专利权）人 | 西安智多晶微电子有限公司 |
| 代理机构 | 西安嘉思特知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘长春 |
| 地址 | 710075 陕西省西安市高新区科技二路72号西岳阁102室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种芯片量产测试系统。该测试系统包括测试机110；第一处理器120，电连接至所述测试机110，用于接收所述测试机110的控制指令，根据所述控制指令配置待测芯片并将配置结果发送至所述测试机110；第二处理器130，电连接至所述第一处理器120，用于根据所述第一处理器120发送的测试激励文件测试所述待测芯片。本发明提供的测试系统，通过测试机、第一处理器以及第二处理器配合完成不同的测试向量，在低端测试平台上就可以完成复杂芯片的量产测试，节约了芯片量产测试成本，极大缩短了测试程序开发时间，在线调试比较方便。 |
