大拓扑荷值单模完美涡旋光的测量装置和方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

大拓扑荷值单模完美涡旋光的测量装置和方法

基本信息

申请号	CN202210329674.0	申请日	-
公开（公告）号	CN114689170A	公开（公告）日	2022-07-01
申请公布号	CN114689170A	申请公布日	2022-07-01
分类号	G01J1/42（2006.01）I;G01J1/04（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	晋云霞;吴昱博;孔钒宇;赵靖寅;张益彬	申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所
代理机构	上海恒慧知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	-
地址	201800上海市嘉定区清河路390号
法律状态	-

摘要

一种大拓扑荷值完美涡旋光的测量装置和方法，该装置包括激光器，沿该激光器的激光输出方向依次是扩束器、线偏振片、第一反射镜、第二反射镜、反射式纯相位液晶空间光调制器、平凸柱面镜、傅里叶透镜、光阑和CCD相机，所述的反射式纯相位液晶空间光调制器的控制端与第一PC控制端相连，所述的CCD相机的控制端与第二PC控制端相连，所述的CCD照相机置于所述的傅里叶透镜的焦平面，所述的平凸柱面镜位于反射式纯相位液晶空间光调制器和傅里叶透镜之间的任意位置。本发明可测量完美涡旋光的拓扑荷值范围较大，且可测量不同底角参数的完美涡旋光。本发明光路简洁，灵活性强，所述的平凸柱面镜的位置与角度皆可调，操作极为方便，可应用于大拓扑荷数完美涡旋光的检测。