一种植物叶片厚度测量装置
基本信息
| 申请号 | CN202220368949.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216846005U | 公开（公告）日 | 2022-06-28 |
| 申请公布号 | CN216846005U | 申请公布日 | 2022-06-28 |
| 分类号 | G01B5/06（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陶泽兴 | 申请（专利权）人 | 中国科学院地理科学与资源研究所 |
| 代理机构 | 北京力量专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 100101北京市朝阳区大屯路甲11号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及植物叶片测量技术领域，提供了一种植物叶片厚度测量装置。包括：基座、固定装置和测量装置，基座上设置有两个侧板，每个侧板上设置有一固定装置，两个侧板之间设置有导杆和滑轨，导杆位于滑轨的下方；测量装置由有多个测量器组成，多个测量器的结构相同；每个测量器均设置有横向滑动座和纵向滑动座，横向滑动座沿滑轨移动，纵向滑动座沿横向滑动座移动，纵向滑动座上设置延其上下移动的测量柱。本实用新型的有益效果在于：设置有多个可横向移动和纵向移动的测量装置，叶片固定后，将多个测量装置移动到叶片的不同位置，一次操作后可获取叶片、叶脉、叶尖等不同部位的厚度数据，以供科研人员获取进行后续研究。 |
