一种用于温度对光学系统形变影响测试的温控治具和方法
基本信息
| 申请号 | CN201810607675.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110595372A | 公开（公告）日 | 2021-06-29 |
| 申请公布号 | CN110595372A | 申请公布日 | 2021-06-29 |
| 分类号 | G01B11/16;G05D23/20 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 洪铁迪;潘周权;其他发明人请求不公开姓名 | 申请（专利权）人 | 余姚舜宇智能光学技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京观韬中茂律师事务所 | 代理人 | 梁朝玉 |
| 地址 | 315400 浙江省宁波市余姚市兰江街道世南西路1918号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及光学系统热稳定性技术领域，公开了一种用于温度对光学系统形变影响测试的温控治具和方法，温控治具包括温控调节器和加热器，所述加热器包括保护罩、加热体以及隔热底座，所述保护罩设于所述加热体外，所述保护罩具有入口端口，所述加热体具有中空部，所述入口端口与所述中空部相连通，所述加热体与所述温控调节器电连接；方法中利用上述温控治具和光学影像测量仪形成了较为完善的帮助定量获取温度变化对光学系统形变影响的较为符合实际的参数；本发明结构简单，尺寸小巧，制造和应用成本低，能够帮助生产、研发人员在生产或研发设计过程测试温度变化对光学系统形变影响，为设计初期提供设计选型数据支持。 |
