一种便于观察的芯片检查盘
基本信息
| 申请号 | CN202023065657.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214277923U | 公开（公告）日 | 2021-09-24 |
| 申请公布号 | CN214277923U | 申请公布日 | 2021-09-24 |
| 分类号 | G01N21/84（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 芮聪;杨吉明;匡华强;范宇;孙杰;张正贵 | 申请（专利权）人 | 江苏海德半导体有限公司 |
| 代理机构 | 北京轻创知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈晓华 |
| 地址 | 214400江苏省无锡市江阴市临港街道东徐路3号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种便于观察的芯片检查盘，包括检查盘主体和盖板，检查盘主体的中部为内凹，且检查盘主体中部设有若干放置孔，放置孔呈矩阵阵列分布，检查盘主体的前后两端设有两组开槽，盖板穿过对应组的开槽位于各放置孔的上方或者下方，该便于观察的芯片检查盘中，由盖板插入到对应组的开槽中，能够对芯片正反面进行快速限位，随后便于观察，进而提高了检测的效率，提高了检查盘的实用性。 |
