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一种电路板、X射线探测器及检测方法

基本信息

申请号 CN202011298645.X 申请日 -
公开（公告）号 CN112415564A 公开（公告）日 2021-02-26
申请公布号 CN112415564A 申请公布日 2021-02-26
分类号 G01T1/208(2006.01)I;G01T1/20(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 李博;王洪波;刘强 申请（专利权）人 同源微（北京）半导体技术有限公司
代理机构 北京正理专利代理有限公司 代理人 付生辉
地址 100094北京市海淀区丰豪东路9号院中关村集成电路设计园2-4-902
法律状态 -

摘要

摘要 本申请的一个实施例公开了一种电路板、X射线探测器及检测方法，该电路板包括：第一电路区、第二电路区、第三电路区和第四电路区，其中，第一电路区用于电连接光电二极管阵列芯片；第二电路区包括贯穿于所述第一电路区和第三电路区的导通孔，用于实现第一电路区与第三电路区的电连接导通；第三电路区包括焊盘部和安装部，其中，所述焊盘部用于连接电荷电流处理芯片，所述安装部用于连接探测器支架；第四电路区用于连接探测器连接器，以使得探测器连接器将所述电荷电流处理芯片的信号输出至数据采集处理装置。本申请针所述技术方案降低了X射线对电路板的损伤，通过构造新的探测器结构，减少了工艺步骤，降低了成本，提高了产品的可靠性。