一种X射线探测器及检测系统
基本信息
| 申请号 | CN202011298630.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112415028A | 公开（公告）日 | 2021-02-26 |
| 申请公布号 | CN112415028A | 申请公布日 | 2021-02-26 |
| 分类号 | G01N23/18(2018.01)I;G01N23/083(2018.01)I;G01T1/20(2006.01)I;G01N23/04(2018.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李博;王洪波;高占军 | 申请（专利权）人 | 同源微（北京）半导体技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京正理专利代理有限公司 | 代理人 | 付生辉 |
| 地址 | 100094北京市海淀区丰豪东路9号院中关村集成电路设计园2-4-902 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请的一个实施例公开了一种X射线探测器及检测系统，该探测器包括：电路板、设置于电路板上的闪烁体、光电二极管阵列芯片和电荷电流转换芯片，其中，所述闪烁体用于吸收X射线并将所述X射线转换为可见光，其中，所述闪烁体包括第一闪烁体和第二闪烁体，所述第一闪烁体用于吸收第一能量射线，所述第二闪烁体用于吸收第二能量射线，其中，所述第二能量射线的能量比所述第一能量射线的能量高；所述光电二极管阵列芯片用于将所述可见光转换为电流信号；所述电荷电流转换芯片用于将所述电流信号转换为电压信号或数字信号，其中，所述电压信号或数字信号用于表征所述X射线穿过被检目标后的射线强度。 |
