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X射线测试钨板

基本信息

申请号 CN201930374810.7 申请日 -
公开（公告）号 CN305663194S 公开（公告）日 2020-03-27
申请公布号 CN305663194S 申请公布日 2020-03-27
分类号 - 分类 -
发明人 宋宗福 申请（专利权）人 同源微（北京）半导体技术有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 100094 北京市海淀区丰豪东路9号院（中关村集成电路设计园）2号楼4单元902
法律状态 -

摘要

摘要 1、本外观设计产品的名称：X射线测试钨板。 2、本外观设计产品的用途：测试X射线阵列探测器的射线响应性能。 3、本外观设计的设计要点：本外观设计产品钨板上的孔。 4、其他视图无设计要点，故省略。 5、最能说明设计要点的图片：主视图。