变频器老化测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202121406449.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215986281U | 公开（公告）日 | 2022-03-08 |
| 申请公布号 | CN215986281U | 申请公布日 | 2022-03-08 |
| 分类号 | G01R31/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李亮;刘静;吴钰楠;马淑琴 | 申请（专利权）人 | 浙江海利普电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 潘剑颖 |
| 地址 | 314300浙江省海盐县武原镇新桥北路339号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本公开了提供一种变频器老化测试系统，其特征在于包括：供电模组，被配置为根据被测变频器所需的功率和/或电压向被测变频器供电；以及老化测试模组，连接在所述被测变频器的输出侧和输入侧之间，被配置为用作被测变频器的负载，并将测试过程中产生的电能返回给所述被测变频器。由于作为负载的老化测试模组将处理后的电能重新输入被测变频器，实现了能量的自回流。另外，供电模组可包括供电变频器，供电变频器能够输出不同的输出电压，从而变频器老化测试系统可以适应不同电压等级的被测变频器。 |
