一种检测液晶屏幕边缘缺陷的系统及其方法
基本信息
申请号 | CN202110636284.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113533364A | 公开(公告)日 | 2021-10-22 |
申请公布号 | CN113533364A | 申请公布日 | 2021-10-22 |
分类号 | G01N21/95;G01N21/01 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 曹琳;陶平;李军;陈馨馨;李伟;田永军 | 申请(专利权)人 | 北京兆维智能装备有限公司 |
代理机构 | 北京轻创知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李昆蔚 |
地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路14号兆维工业园B区B5栋 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及一种检测液晶屏幕边缘缺陷的系统,其包括:水平的检测面、竖直设置于检测面上方的检测器、位于检测面上方的第一线光源和位于检测面下方的第二线光源,其中,第一线光源可转动设置,且转动第一线光源的光束朝向使检测器进行明场成像;第二线光源可转动设置,且转动第二线光源的光束朝向使检测器进行暗场成像。本发明还提供一种检测液晶屏幕边缘缺陷的方法,该方法基于上述检测液晶屏幕边缘缺陷的系统进行检测。本发明各部件布局合理,通过简单的光源设计和变化,便可以对液晶屏幕的透明边缘和液晶屏幕的不透明边缘进行检测,准确度高,稳定性好,大大提高了检测效率。 |
