射频微波探针的S参数提取方法及系统、存储介质及终端
基本信息
申请号 | CN202110628906.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113076713B | 公开(公告)日 | 2021-10-15 |
申请公布号 | CN113076713B | 申请公布日 | 2021-10-15 |
分类号 | G06F30/367;G01R31/00;G01R35/02 | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 丁旭;王立平 | 申请(专利权)人 | 浙江铖昌科技股份有限公司 |
代理机构 | 上海光华专利事务所(普通合伙) | 代理人 | 徐秋平 |
地址 | 310010 浙江省杭州市西湖区三墩镇西园三路3号5幢601室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种射频微波探针的S参数提取方法及系统、存储介质及终端,包括以下步骤:获取三维电磁场仿真得到的所述在片校准件的开路、短路、负载匹配的反射系数和直通的传输系数的仿真值;获取双端口S参数校准得到的所述在片校准件的开路、短路、负载匹配的反射系数和直通的传输系数的实测值;计算仿真值与实测值的误差值;若误差值大于预设阈值,获取仿真参数重置后获取的仿真值,直至误差值不大于预设阈值;对仿真值进行拟合,以获取在片校准件的电路模型参数;基于电路模型参数和OSL算法获取射频微波探针的S参数。本发明的射频微波探针的S参数提取方法及系统、存储介质及终端能够实现S参数的精准提取,有效提高了射频微波的在片测试精度。 |