一种集成电路交替式验证方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202011498790.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112507641A | 公开（公告）日 | 2021-03-16 |
| 申请公布号 | CN112507641A | 申请公布日 | 2021-03-16 |
| 分类号 | G06F30/30(2020.01)I;G06F119/02(2020.01)N | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 陈岚;张金华;张义恒;冯新华 | 申请（专利权）人 | 中科芯云微电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李晓光 |
| 地址 | 266101山东省青岛市崂山区松岭路169号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种集成电路交替式验证方法及系统，该集成电路交替式验证系统，通过使用多种验证工具并灵活配置交替验证，可尽可能多的发现问题，并且通过结果预判模块，还可以尽可能早的定位问题所在，能及时、精确、穷尽的验证集成电路设计中存在的问题，提高了验证的覆盖率，为集成电路的设计提供可靠依据。 |
