一种PDK测试的优化方法、装置、存储介质和设备
基本信息
| 申请号 | CN202110275125.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112882946A | 公开（公告）日 | 2021-06-01 |
| 申请公布号 | CN112882946A | 申请公布日 | 2021-06-01 |
| 分类号 | G06F11/36 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 陈岚;郭潇蔚;王志鹏 | 申请（专利权）人 | 中科芯云微电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈志海 |
| 地址 | 266101 山东省青岛市崂山区松岭路169号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种PDK测试的优化方法、装置、存储介质和设备，从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息。对参数化单元的属性信息进行代码编辑，得到参数化单元的版图描述文件，其中，版图描述文件用于指示参数化单元的版图的格式要求。基于版图描述文件生成虚拟库，在获取到PDK测试人员的触发操作的情况下，从虚拟库中调用测试所需的各个参数化单元的版图，组建测试版图，并利用测试版图进行PDK测试。由于参数化单元的版图的格式满足版图描述文件所指示的格式要求，因此，生成测试版图所消耗的时间会有所限制。可见，利用本申请所述的方法，能够有效提高PDK测试的效率。 |
