测试方法、测试设备和测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202110181279.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113009248A | 公开（公告）日 | 2021-06-22 |
| 申请公布号 | CN113009248A | 申请公布日 | 2021-06-22 |
| 分类号 | G01R31/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李一路;杨荣康;郭启云;李峰辉;李兴国;王鹏程;温凯;刘永成;黄满义;付乃峰;张小飞 | 申请（专利权）人 | 天津云遥宇航科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
| 地址 | 300000 天津市滨海新区天津自贸试验区（空港经济区）环河北路80号空港商务园东区8号楼A708室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种测试方法、测试设备和测试系统，该测试方法应用于测试设备，测试设备包括通过PCI总线连接的上位机和下位机，该测试方法包括：上位机生成包括指令发送时刻的时序测试指令，并将该时序测试指令发送给下位机；下位机存储该时序测试指令，通过中断触发处理器在该指令发送时刻向被测设备转发该时序测试指令，以及将被测设备的时序反馈指令转发给上位机。本发明实施例中，通过生成具有指令发送时刻的时序测试指令，并利用中断触发处理器向被测设备发送该时序测试指令，保证了时序测试指令能够在指定的时间被下位机优先处理，从而保证了时序测试指令能够在规定的时间发送到被测设备，满足了被测设备对指令时序的高精度要求。 |
