一种堆叠态半导体芯片结构及其工艺方法

基本信息

申请号 CN202010978208.6 申请日 -
公开(公告)号 CN112038221A 公开(公告)日 2020-12-04
申请公布号 CN112038221A 申请公布日 2020-12-04
分类号 H01L21/205;H01L21/02;H01L21/3213 分类 基本电气元件;
发明人 涂波;郑香奕 申请(专利权)人 深圳市洁简达创新科技有限公司
代理机构 广东合方知识产权代理有限公司 代理人 深圳市洁简达创新科技有限公司
地址 518109 广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司B栋601
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种堆叠态半导体芯片结构及其工艺方法,本发明堆叠态半导体芯片结构,包括基板,在基板上依次堆叠设置P型半导体层和N型半导体层,P型半导体层和N型半导体层相间设置,P型半导体层至少为2层,N型半导体层至少为2层。本发明通过化学气相沉积法来堆叠形成P型半导体层和N型半导体层,并且采用物理刻蚀和电浆清洗的方式形成导电层,避免使用掩膜、光阻剂、光刻机来制造半导体芯片,降低了半导体芯片工艺复杂性,提高了半导体芯片产品的良率。