一种定位精准的半导体测试座
基本信息
| 申请号 | CN202021383504.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212750838U | 公开（公告）日 | 2021-03-19 |
| 申请公布号 | CN212750838U | 申请公布日 | 2021-03-19 |
| 分类号 | H01L21/683(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I;H01L21/68(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 闵哲 | 申请（专利权）人 | 苏州朗之睿电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 苏州铭浩知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 朱斌兵 |
| 地址 | 215000江苏省苏州市工业园区唯西路23号3幢A101室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种定位精准的半导体测试座，包括：承载座；在所述承载座上设有连接块，连接块上设有托块；所述托块上的上方依次设有PCB基板、测试片模块和限位盖板，且在所述托块上设有定位销钉，所述定位销钉依次穿过PCB基板、测试片模块和限位盖板后进行定位；在所述限位盖板内设有限位开口，所述限位开口内设有芯片，所述芯片上的芯片管脚与测试片模块相接触，本实用新型的定位精准的半导体测试座，整体结构紧凑，强了测试片引脚与芯片管脚的接触性以及测试片与PCB基板的接触，提高了接触的可靠性，并且整体的精度质量提高，测试稳定，测试良率高，提高了生产效率降低成本，加工难度降低，加工精度提高。 |
