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一种测试精准的半导体器件用测试座

基本信息

申请号	CN202021495980.4	申请日	-
公开（公告）号	CN212569023U	公开（公告）日	2021-02-19
申请公布号	CN212569023U	申请公布日	2021-02-19
分类号	G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	闵哲	申请（专利权）人	苏州朗之睿电子科技有限公司
代理机构	苏州铭浩知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	朱斌兵
地址	215000江苏省苏州市工业园区唯西路23号3幢A101室
法律状态	-

摘要

本实用新型涉及一种测试精准的半导体器件用测试座，包括：底座；陶瓷座，可上下移动的设置在底座内，且陶瓷座内开有凹槽；设置在凹槽内的定位陶瓷块，定位陶瓷块的顶部设有定位槽，且定位陶瓷块与凹槽的两侧形成了限位腔；底座的上方依次设有PCB基板和定位座；定位座的顶部设有盖板；定位座上设有两个凸台；测试片组件，通过可调一体式模组前后移动的设置在两个凸台之间；陶瓷座的顶部依次穿出PCB基板和定位座，且所述测试片组件设置在限位腔内，本实用新型能调制测试片针尖与芯片管脚接触的位置，还能通过陶瓷座配合压缩弹簧构成悬浮式配合产品下压时与测试片的接触缓冲提搞接触性能，有效控制整个测试产品的下压高度，对测试片和测试座形成保护。