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一种芯片测试座

基本信息

申请号	CN202022739923.2	申请日	-
公开（公告）号	CN213845224U	公开（公告）日	2021-07-30
申请公布号	CN213845224U	申请公布日	2021-07-30
分类号	H01L21/66（2006.01）I;H01L21/68（2006.01）I;H01L21/687（2006.01）I;H01L21/67（2006.01）I;B08B5/02（2006.01）I	分类	基本电气元件;
发明人	闵哲	申请（专利权）人	苏州朗之睿电子科技有限公司
代理机构	苏州铭浩知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	朱斌兵
地址	215000江苏省苏州市工业园区唯西路23号3幢A101室
法律状态	-

摘要

本实用新型涉及一种芯片测试座，包括托块，托块上设有PCB板，PCB板上设有测试座主体；测试座主体的上方覆盖有盖板，盖板上开有通孔；测试座主体包括下面板，下面板上设有下隔片；下隔片上设有对称设置的两个下测试组；下隔片上设有上隔片；上隔片上设有对称设置的两个上测试组，上测试组和下测试组上下对应设置；上测试组的上方设有定位板；定位板内设有限位芯片的限位槽，限位槽位于盖板的通孔内；上测试组和下测试组的一端穿过下面板与PCB上的焊盘相接触，上测试组和下测试组的另一端穿过限位槽与芯片相接触，本实用新型提高了芯片与上测试组以及下测试组接触的可靠性，同时提高了上测试组和下测试组与芯片的定位精度，提高测试精度。