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一种陶瓷嵌入定位式半导体器件用测试座

基本信息

申请号	CN202021476439.9	申请日	-
公开（公告）号	CN212569022U	公开（公告）日	2021-02-19
申请公布号	CN212569022U	申请公布日	2021-02-19
分类号	G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	闵哲	申请（专利权）人	苏州朗之睿电子科技有限公司
代理机构	苏州铭浩知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	朱斌兵
地址	215000江苏省苏州市工业园区唯西路23号3幢A101室
法律状态	-

摘要

本实用新型涉及一种陶瓷嵌入定位式半导体器件用测试座，包括底座；设置在所述底座上的转接支架；转接支架的上方从下至上依次设有托块、一体式测试片、主体和限位盖板；主体内嵌设有陶瓷定位组件，用于对芯片进行限位；陶瓷定位组件内设有芯片；限位盖板内设有用于容纳芯片通过的通孔；本实用新型的陶瓷嵌入定位式半导体器件用测试座，测试片的针尖采用钨钢焊接以及测试片一体式对称设计，增强了测试片的针尖与芯片管脚的接触，同时芯片通过第一限位陶瓷块和第二限位陶瓷块形成的四个直角定位及陶瓷顶针的辅助保证接触精度，使其达到理想的接触及测试效果，提高了接触的可靠性和使用寿命，节省了维修维护更换时间成本，测试稳定且测试良率高，提高了生产效率的同时降低了成本。