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半导体晶元检测及除尘设备

基本信息

申请号 CN202130268076.3 申请日 -
公开（公告）号 CN306838317S 公开（公告）日 2021-09-21
申请公布号 CN306838317S 申请公布日 2021-09-21
分类号 - 分类 -
发明人 张舞杰;邓锦飞 申请（专利权）人 东莞市睿华智能科技有限公司
代理机构 广州恒华智信知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 姜宗华
地址 523808 广东省东莞市松山湖园区工业北四路1号11栋301室
法律状态 -

摘要

摘要 1.本外观设计产品的名称：半导体晶元检测及除尘设备。2.本外观设计产品的用途：用于检测及清理半导体晶元的灰尘。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。