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双层介质空间中的声场测量与变换方法

基本信息

申请号	CN201010110231.X	申请日	-
公开（公告）号	CN102141431A	公开（公告）日	2011-08-03
申请公布号	CN102141431A	申请公布日	2011-08-03
分类号	G01H17/00(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	何元安;张若愚;聂佳;申和平	申请（专利权）人	鸿远亚太科技（北京）有限公司
代理机构	北京东正专利代理事务所（普通合伙）	代理人	鸿远亚太科技（北京）有限公司;北京神州普惠科技有限公司
地址	100097 北京市海淀区紫竹院路116号嘉豪国际中心C610-611室
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种双层介质空间中的声场测量变换方法，该方法的步骤为：在声源S1附近建立两个同轴的柱面测量面，S1位于柱面内，分别测量两个测量面上的声压分布p₁，p₂；将介质分界面反射的声波看作是声源S1关于界面的镜像S2直接发出的声波；将每个测量面上的声压分解为自S1和S2处直接传播至各测量面的声压之和，即，p₁(x₁，y₁，z₁)＝p₁₁(x₁，y₁，z₁)+p₂₁(x₁，y₁，z₁)，p₂(x₂，y₂，z₂)＝p₁₂(x₂，y₂，z₂)+p₂₂(x₂，y₂，z₂)；上述两式左右两边分别进行二维傅立叶变换，并根据声源S1和虚声源S2在两个柱面测量面上的声压关系，即，求解波数域的声压分布，然后通过二维傅立叶逆变换得到空间域上声源S1直接传播至两个测量面上的声压p₁₁，p₁₂；最后利用测量得到的任一测量面上的来自S1的声压分布进行柱面全息反演变换，从而获得全空间的声压分布。该方法克服了由于界面的存在导致声场测量变换准确度差的缺陷，并且，变换过程简单，计算量小，速度快。