一种便于取放的调光膜通电老化测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202021353768.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212568888U | 公开（公告）日 | 2021-02-19 |
| 申请公布号 | CN212568888U | 申请公布日 | 2021-02-19 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 周龙平;李彬 | 申请（专利权）人 | 扬州晶彩光电科技有限公司 |
| 代理机构 | 苏州翔远专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘计成 |
| 地址 | 225000江苏省扬州市高新区吉安南路158号金荣科技园创富工场4#南楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种便于取放的调光膜通电老化测试装置，包括测试架、温度传感器和单片机，所述测试架的内壁上螺栓固定有温度传感器，且测试架顶部的内侧螺栓固定有单片机，所述测试架的后侧轴连接有把手，且把手的一端贯穿测试架连接有螺杆，所述螺杆轴连接于活动槽内，且活动槽开设于测试架的侧壁上，并且螺杆上螺纹套设有安装架，所述安装架的外侧一体设置有固定承托杆，所述移动槽的内壁与安装架的顶部之间贯穿开设有通槽，所述固定销的一端位于固定槽内，所述测试架后侧的内部开设有风槽内。该便于取放的调光膜通电老化测试装置，对不同规格的调光膜进行批量测试，同时便于调光膜的拿取和存放。 |
