一种光模块芯片瑕疵的视觉检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202110252683.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112986269A | 公开（公告）日 | 2021-06-18 |
| 申请公布号 | CN112986269A | 申请公布日 | 2021-06-18 |
| 分类号 | G01N21/892 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 许滨;吴海涛;朱飞 | 申请（专利权）人 | 南通辰同智能科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京和信华成知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 席卷 |
| 地址 | 226500 江苏省南通市如皋市如城街道惠政西路555号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种光模块芯片瑕疵的视觉检测装置，其结构包括检测台，检测台上设有光模块芯片的传输线，传输线的正上方悬空设置有工位槽，工位槽延伸至传输线的传输末端，传输线带动光模块芯片进行传送时，光模块芯片始终位于工位槽的内部，工位槽上设有光模块芯片的外观检测工位、缺陷转移工位以及成品转移工位述外观检测工位、缺陷转移工位以及成品转移工位沿着传输线的传送方向设置，本发明提高了光模块芯片外观检测的效率和准确性。 |
