纳米线与纳米线间界面作用力测量方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202210137176.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114689659A | 公开（公告）日 | 2022-07-01 |
| 申请公布号 | CN114689659A | 申请公布日 | 2022-07-01 |
| 分类号 | G01N27/04（2006.01）I;G01L1/20（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 曹振兴;梁凤芝;黄涛;王一鸣;董慧龙;袁凤;秦余杨;王均溢;杨溢 | 申请（专利权）人 | 常熟理工学院 |
| 代理机构 | 南京苏高专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 215500江苏省苏州市常熟市南三环路99号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种纳米线与纳米线间界面作用力测量方法，包括通过测量两根头部搭接的纳米线在相背移动产生剥离趋势时的变形量以及两者间接触电阻的变化，进而得到纳米线与纳米线间的界面作用力与接触电阻的关系，之后通过测量纳米线与纳米线间的接触电阻即可实时得到纳米线间的界面作用力。本发明还公开了纳米线与纳米线间界面作用力测量装置。本发明通过使纳米线形变确定纳米线间界面作用力与接触电阻的关系，进而由接触电阻的测量间接实现了纳米线间界面作用力的实时测量。 |
