X射线成像设备的自动曝光参数的计算方法及装置
基本信息
申请号 | CN201910617645.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110269635A | 公开(公告)日 | 2019-09-24 |
申请公布号 | CN110269635A | 申请公布日 | 2019-09-24 |
分类号 | A61B6/00 | 分类 | 医学或兽医学;卫生学; |
发明人 | 邹鲁民 | 申请(专利权)人 | 北京友通上昊科技有限公司 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 马莉 |
地址 | 101111 北京市大兴区经济技术开发区科创十四街99号2号楼一层 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供了一种X射线成像设备的自动曝光参数的计算方法及装置,该方法包括:对处理对象的拍摄部位进行第一次预曝光,获取第一图像以及所述第一图像的第一ROI区信息;根据所述第一ROI区信息,对所述拍摄部位进行第二次预曝光,获取第二图像;对所述第一图像和第二图像进行能量减影,确定特征图像,以确定部位类别;根据所述第一ROI区信息,并对所述拍摄部位进行主曝光,确定第三图像;根据所述部位类别、特征图像和第一ROI区信息,确定所述第三图像的处理参数。本发明基于实际图像内容的计算,获取曝光参数,对于各种类别图像均可获得较好的处理结果,能有效提高曝光参数的准确性。 |
