一种基于多块FPGA进行ICscanchain电路测试的方法
基本信息
| 申请号 | CN202110611407.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113391190A | 公开（公告）日 | 2021-09-14 |
| 申请公布号 | CN113391190A | 申请公布日 | 2021-09-14 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R31/317（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张益畅 | 申请（专利权）人 | 珠海昇生微电子有限责任公司 |
| 代理机构 | 广州三环专利商标代理有限公司 | 代理人 | 侯丽燕 |
| 地址 | 519000广东省珠海市高新区唐家湾镇金唐路1号港湾1号科创园24栋B区3层302室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种基于多块FPGA进行IC scan chain电路测试的方法，采用级联扩容的思想，解决单个FPGA作为SCAN CHAIN pattern的存储实体时存储资源不足的问题，通过自定义的FPGA间的通信握手方式，下一级FPGA可以知道上一级FPGA已完成测试，需要启动本级FPGA工作，并在本级FPGA测试完毕后，通知再下一级FPGA开始工作，本发明采用串联链工作原理，实现了庞大的SCAN CHAIN测试向量测试。 |
