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基于FPGA芯片实现的scanchain电路的测试系统及方法

基本信息

申请号	CN202110611408.2	申请日	-
公开（公告）号	CN113377587A	公开（公告）日	2021-09-10
申请公布号	CN113377587A	申请公布日	2021-09-10
分类号	G06F11/22（2006.01）I	分类	计算；推算；计数;
发明人	张益畅	申请（专利权）人	珠海昇生微电子有限责任公司
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	侯丽燕
地址	519000广东省珠海市高新区唐家湾镇金唐路1号港湾1号科创园24栋B区3层302室
法律状态	-

摘要

本发明涉及一种基于FPGA芯片实现的scan chain电路的测试系统及方法，所述测试系统集成于FPGA芯片上，包括：数据解析单元、存储单元、时序发生单元、控制单元和结果输出单元；方法包括S1，将原始scan chain电路的激励信号和原始scan chain电路的预期输出信号进行数据解析和编码，编码后经过scan chain电路进行激励和存储，并对数据解析单元解析后scan chain电路的预期输出信号进行编码并存储；根据测试scan chain电路的时序波形对经过编码后的scan chain电路的激励信号进行采样，并将采样数据和存储的预期输出信号进行数据比对；输出结果。本发明实现了在小型FPGA平台上对scan chain电路的测试，实现方案价格便宜，测试速度快。