一种多频段多极化相控阵天线测试近场设备
基本信息
| 申请号 | CN202220845190.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216560792U | 公开（公告）日 | 2022-05-17 |
| 申请公布号 | CN216560792U | 申请公布日 | 2022-05-17 |
| 分类号 | G01R29/10（2006.01）I;G01R1/02（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 彭科 | 申请（专利权）人 | 成都智芯雷通微系统技术有限公司 |
| 代理机构 | 重庆坤源衡泰律师事务所 | 代理人 | - |
| 地址 | 610000四川省成都市天府新区华阳街道长江东二街56号1栋1层1室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型属于相控阵天线技术领域，公开了一种多频段多极化相控阵天线测试近场设备，包括：屏蔽暗箱，容纳各个部件；位置调节机构，置于屏蔽暗箱内底面上，调节检测端的空间位置；旋转运动机构，设置在位置调节机构的移动端上，调节检测端的检测角度；激光测距仪，设置在旋转运动机构的旋转端上；近场测试探头，设置在旋转运动机构的旋转端上；和可微调天线承载平台，置于位置调节机构旁的屏蔽暗箱内底面上，安装待测相控阵天线。本实用新型能够根据检测需求调节近场测试探头和空间位置和检测角度，同时利用激光测距仪随时跟进检测位置，从而实现多频段多极化相控阵天线的近场测试。 |
