芯片挑选方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202111336323.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114113978A | 公开（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申请公布号 | CN114113978A | 申请公布日 | 2022-03-01 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘署;徐宏思;桂晓峰;李育飞 | 申请（专利权）人 | 成都海光集成电路设计有限公司 |
| 代理机构 | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 | 代理人 | 苑晨超 |
| 地址 | 610041四川省成都市高新区天府大道中段1366号2栋天府软件园E5座11层22-31号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种芯片挑选方法，包括：向测试机发送测试开始指令，以使测试机将待测试的芯片安装在测试主板上并向测试主板供电；通过测试主板的联合测试工作组接口，读取芯片的第一序列号；将芯片的第一序列号与预先存储的序列号列表进行比对，当序列号列表中存在第二序列号与第一序列号匹配时，确定当前的芯片为目标芯片；当序列号列表中不存在第二序列号与第一序列号匹配时，向测试机发送断电指令，以使测试机将测试主板断电并取下当前的芯片。本发明提供的芯片挑选方法，能够在不进入操作系统的情况下，通过联合测试工作组接口读取第一序列号，并将第一序列号与序列号列表中进行比对，从而能够节省挑选时长，提高效率。 |
