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量产芯片的筛选方法及装置

基本信息

申请号	CN202010856980.0	申请日	-
公开（公告）号	CN112014719A	公开（公告）日	2020-12-01
申请公布号	CN112014719A	申请公布日	2020-12-01
分类号	G01R31/28(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	耿磊;许俊	申请（专利权）人	南京盛科通信有限公司
代理机构	苏州威世朋知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	苏婷婷
地址	211500江苏省南京市江北新区研创园团结路99号孵鹰大厦1620室
法律状态	-

摘要

本发明提供一种量产芯片的筛选方法和装置，所述方法包括：在量产芯片之前，所述方法包括：S1、生产第一预设数量的芯片作为测试样本；S2、批量获取每一测试样本的静态电流值，以及在预定应用环境下获取每一测试样本对应的功耗值；S3、根据所有测试样本的静态电流值和其所对应的最大功耗值，归纳静态电流值和功耗值的线性映射关系函数；S4、根据线性映射关系函数以及量产芯片的预设功耗值获取量产芯片的理论静态电流值；在量产芯片之后，所述方法包括：S5、获取量产芯片中每一芯片的实际静态电流值，并根据每一芯片的实际静态电流值和其所对应的理论静态电流值的大小关系对量产芯片进行筛选；本发明可对符合功耗要求的芯片进行批量筛选。