透明体表面缺陷提取及识别方法
基本信息
| 申请号 | CN201810476168.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108665458B | 公开（公告）日 | 2022-02-01 |
| 申请公布号 | CN108665458B | 申请公布日 | 2022-02-01 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/194（2017.01）I;G06T7/30（2017.01）I;G06T5/30（2006.01）I;G06T5/00（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 袁巨龙;赵文宏 | 申请（专利权）人 | 杭州智谷精工有限公司 |
| 代理机构 | 北京中济纬天专利代理有限公司 | 代理人 | 陈振华 |
| 地址 | 311121浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-2号5幢206室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及透明体表面缺陷提取及识别方法。本发明的透明体表面缺陷提取及识别方法包括以下步骤：①采用中值滤波的方式对图像进行平滑处理，消除噪声；②缺陷提取；③缺陷判别。与现有技术相比，本发明的方法采用特定的算法步骤，对采集到的图像进行提取和识别，从而使对透明体的线检测方法兼具适用范围广、灵活性强、运行稳定、检测效率高和精度高的特点。通过搭建实验平台对该发明方法进行了实验，实验结果表明：用本发明方法检测处理一张5’的手机玻璃面板所需的时间为3s，误检率为1.58％，位置和外观尺寸缺陷检测精度可达10um，其他缺陷检测精度为20um。 |
