光纤几何尺寸测试装置及测试方法

基本信息

申请号 CN202010702751.3 申请日 -
公开(公告)号 CN111707193A 公开(公告)日 2020-09-25
申请公布号 CN111707193A 申请公布日 2020-09-25
分类号 G01B11/00(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 张成;夏于生;刘杰;及少勇;陈程 申请(专利权)人 上海赛克力光电技术有限责任公司
代理机构 上海光华专利事务所(普通合伙) 代理人 上海电缆研究所有限公司;上海赛克力光电缆有限责任公司
地址 200093上海市杨浦区军工路1000号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及光纤几何尺寸测试技术领域,尤其涉及一种光纤几何尺寸测试装置,包括旋转支架、与旋转支架相连接的驱动件和安装在旋转支架上的多个物镜,驱动件驱动旋转支架绕自身轴线转动,多个物镜分布在以旋转支架的轴线为中心的圆周上并具有不同的放大倍数。还涉及一种光纤几何尺寸测试方法,采用上述测试装置,根据被测光纤的几何尺寸大小选择旋转支架上多个物镜其中的一个作为测试物镜,通过驱动件驱动旋转支架转动使测试物镜到达与被测光纤相对的测试位置处,由测试物镜对被测光纤的几何尺寸进行测试。通过驱动件驱动旋转支架转动切换物镜,能够实现较大直径范围内不同直径光纤的几何尺寸测试,物镜的切换过程更为便捷,人工干预误差小。