闪存芯片的性能测试方法、装置、设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN201711384655.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108133732B | 公开（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申请公布号 | CN108133732B | 申请公布日 | 2021-05-25 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 刘凯 | 申请（专利权）人 | 北京京存技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
| 地址 | 100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种闪存芯片的性能测试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：基于预设的选取规则选取闪存芯片的性能测试样本，根据性能测试样本对闪存芯片进行编程/擦除测试；当检测到编程/擦除测试完成时，根据性能测试样本对闪存芯片进行读干扰测试；当检测到读干扰测试完成时，根据性能测试样本对闪存芯片进行数据保留测试。本发明实施例的技术方案，解决了现有技术中没有统一的闪存性能测试流程的问题，实现了便捷地实现闪存性能的测试的效果。 |
