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CAM单元检查模块及其检查方法

基本信息

申请号 CN202210288757.X 申请日 -
公开（公告）号 CN114649049A 公开（公告）日 2022-06-21
申请公布号 CN114649049A 申请公布日 2022-06-21
分类号 G11C29/42（2006.01）I;G11C29/44（2006.01）I;G11C29/50（2006.01）I 分类 信息存储;
发明人 方斗敬 申请（专利权）人 东芯半导体股份有限公司
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 -
地址 201799上海市青浦区徐泾镇诸光路1588弄虹桥世界中心L4A-F5
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及CAM单元检查模块及其检查方法，所述CAM单元检查模块用于对NAND存储器中的CAM单元进行检查，包括：读取电平设定部，该读取电平设定部基于预先存储的CAM单元读取电平表来设定CAM单元读取电平；特殊读取命令执行部，该特殊读取命令执行部基于所设定的所述CAM单元读取电平，执行特殊读取命令；状态检查部，该状态检查部响应于所述特殊读取命令，进行所述CAM单元的数据读取，并判定所述CAM单元的状态是通过还是失败，在所述特殊读取命令下，所读取的所述CAM单元的数据仅用于所述状态检查部进行所述CAM单元的状态的判定。