以ICP-MS法测定高纯砷中杂质元素的制样方法
基本信息
| 申请号 | CN201010593568.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN102072833B | 公开（公告）日 | 2012-07-25 |
| 申请公布号 | CN102072833B | 申请公布日 | 2012-07-25 |
| 分类号 | G01N1/28(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李显坪;王继荣;陈琦;杨华琴;何卫卫 | 申请（专利权）人 | 洛宁中天利新材料有限公司 |
| 代理机构 | 扬州市锦江专利事务所 | 代理人 | 扬州高能新材料有限公司;内蒙古中天利新材料有限公司;扬州中天利新材料股份有限公司 |
| 地址 | 225123 江苏省扬州市维扬区甘泉双塘工业园花庄路 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 以ICP-MS法测定高纯砷中杂质元素的制样方法，涉及物质分析技术领域，将高纯砷放入特制的容器，在一定温度下通氧形成三氧化二砷升华除去砷，而蒸汽压低的杂质元素残留在容器内，残留溶液经电子级硝酸消解，再用稀硝酸定容。本发明可完全消除基体元素砷的干扰。以ICP-MS法制样的检测数据与GD-MS检测数据比较，具有精密度好、准确度高、实用可行的特点。 |
