定位定姿系统的精度评定方法、装置及存储介质专利查询专利号|摘要-满商公司网

定位定姿系统的精度评定方法、装置及存储介质

基本信息

申请号	CN201911297059.0	申请日	-
公开（公告）号	CN112985455A	公开（公告）日	2021-06-18
申请公布号	CN112985455A	申请公布日	2021-06-18
分类号	G01C25/00	分类	测量；测试;
发明人	曹亮;李兴涛;章丽萍;金豆;吕枘蓬	申请（专利权）人	武汉四维图新科技有限公司
代理机构	北京同立钧成知识产权代理有限公司	代理人	杜叶蕊;臧建明
地址	430073 湖北省武汉市东湖新技术开发区关山大道1号光谷软件园A1栋5层
法律状态	-

摘要

本公开提供的定位定姿系统的精度评定方法、装置及存储介质，获取定位定姿系统对测试区域进行多次测量的测量数据；根据测量数据获得在世界坐标系下的定位数据；根据测试区域的空间位置对定位数据进行分段，以使获得的测试区域内的每个空间区域段中包括有对该空间区域段进行多次测量的多个定位子数据；利用配准算法确定同一空间区域段内任意两个定位子数据之间的变换参数，根据确定的各任意两个定位子数据之间的变换参数确定测量精度，变换参数用于表示定位定姿系统在相应的子区域内角度与位置的偏差量。本公开通过对同一测试区域进行多次测量，以利用多次测量数据的一致性来评价定位定姿系统的测量精度，相对于现有技术，其成本较低，精准度更高。