多核密码芯片、多核密码芯片的测试方法和测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202011342074.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112131067A | 公开（公告）日 | 2020-12-25 |
| 申请公布号 | CN112131067A | 申请公布日 | 2020-12-25 |
| 分类号 | G06F11/22(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 邓先坤 | 申请（专利权）人 | 赛芯半导体技术（北京）有限公司 |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 九州华兴集成电路设计（北京）有限公司 |
| 地址 | 100080北京市海淀区科学院南路2号C座16层S1601-S1605 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供了一种多核密码芯片、多核密码芯片的测试方法和测试装置，该多核密码芯片包括：多个密码核，用于进行数据运算，各密码核相互独立运行；第一存储器，用于存储各密码核的测试结果；多核控制模块，与第一存储器和各密码核通信连接，用于根据测试结果控制各密码核的开关。该多核密码芯片中，由于各密码核相互独立运行，多核控制模块根据测试结果将异常的密码核关闭后，其他密码核正常工作，并不影响多核密码芯片的正常运行，相比于现有技术一个密码核的测试结果为异常即确定芯片异常，大大提高了多核密码芯片的测试良率，进而解决了现有技术中多核密码芯片的测试良率低的问题。 |
