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一种多功能可编程信号发生参数测试系统

基本信息

申请号 CN201410117459.X 申请日 -
公开（公告）号 CN103941119B 公开（公告）日 2016-09-07
申请公布号 CN103941119B 申请公布日 2016-09-07
分类号 G01R31/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 陈志辉;周向前;江安全 申请（专利权）人 百及纳米科技（上海）有限公司
代理机构 广州市一新专利商标事务所有限公司 代理人 王德祥
地址 100083 北京市海淀区学院路30号天工大厦B座1408室
法律状态 -

摘要

摘要 一种多功能可编程信号发生参数测试系统，在同一个片上系统基片上或同一块系统级封装的电路基片上设置有中央处理器、存储器、时钟发生器及可编程控制信号发生源系统、数据采集系统、数字信号处理器和功能电路实时选控模块。可编程控制信号发生源系统，生成设定的波形电压激励信号，功能电路实时选控模块控制其内的信号发生器模块输出激励外接被测物体的测试信号；数据采集系统采集外接被测物体的应激反应模拟电信号并转换为应激反应数字信号；数字信号处理器实时快速处理数据采集系统产生的应激反应数字信号。本发明增强了测试系统在高频高速测试条件的可靠性，提高抗电磁干扰效果，实现多功能高度协同测试测量，降低成本及占地空间。