一种单层膜双纳米孔DNA检测设备及检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202110466792.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113176317A | 公开（公告）日 | 2021-07-27 |
| 申请公布号 | CN113176317A | 申请公布日 | 2021-07-27 |
| 分类号 | G01N27/327 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 胡岚;曹铭;凌新生 | 申请（专利权）人 | 苏州罗岛纳米科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王雨 |
| 地址 | 215000 江苏省苏州市苏州工业园区若水路398号中科院纳米所D栋918室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种单层膜双纳米孔DNA检测设备，包括DNA修饰腔、DNA检测腔、电场电极及信号处理终端；所述DNA修饰腔，用于在待测DNA所述待测DNA的尾端连接磁性小球；所述电场电极，用于在所述DNA检测腔内生成外加电场，使加装所述探针及所述磁性小球的待测DNA的首端从所述单层膜双纳米芯片的正面先穿过所述纳米孔A到达所述单层膜双纳米芯片的背面，再从所述背面穿过纳米孔B，且在完成单次所述DNA过孔检测后，关闭所述电场电极，使所述待测DNA回缩。本发明同时获得两次DNA检测结果，提升检测结果的准确性，且节省了检测时间，提高了检测效率。本发明还提供了具有由上述优点的单层膜双纳米孔DNA检测方法。 |
