辐射检查系统
基本信息
| 申请号 | CN202111668939.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114152993A | 公开（公告）日 | 2022-03-08 |
| 申请公布号 | CN114152993A | 申请公布日 | 2022-03-08 |
| 分类号 | G01V5/00（2006.01）I;G01N23/04（2018.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 樊旭平;宋全伟;史俊平;何远;孟辉 | 申请（专利权）人 | 同方威视科技（北京）有限公司 |
| 代理机构 | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 颜镝 |
| 地址 | 101500北京市密云区经济开发区园林路18号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本公开涉及一种辐射检查系统，包括：辐射源，具有加速器靶点；和探测器臂，包括臂体和多个探测器模块，多个探测器模块沿臂体的长度方向在臂体上排布，每个探测器模块包括电路板和安装在电路板上的多个探测器晶体，每个探测器模块中的多个探测器晶体的安装方向相互平行，并且沿电路板上的参考直线排布且相对于参考直线呈预设夹角，多个探测器模块对应至少两种不同的预设夹角。本公开实施例能够改善生成的检查图像的质量。 |
