安检设备、安检系统及安检方法
基本信息
| 申请号 | CN202111670243.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114152994A | 公开（公告）日 | 2022-03-08 |
| 申请公布号 | CN114152994A | 申请公布日 | 2022-03-08 |
| 分类号 | G01V5/00（2006.01）I;G01N23/04（2018.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李元景;孙尚民;宗春光;宋涛;刘磊;马媛;喻卫丰;刘必成 | 申请（专利权）人 | 同方威视科技（北京）有限公司 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 张博 |
| 地址 | 101500北京市密云区经济开发区园林路18号10号楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本公开提供一种安检设备及安检设备，包括：支架，限定沿第一方向延伸的检查通道；第一X射线加速器，设置在支架的顶部的偏移检查通道的中心线的位置，配置成向下朝向检查通道辐射第一X射线，用以对通过检查通道的待检物品进行检查；第二X射线加速器，配置成沿第三方向向检查通道辐射第二X射线用以对通过检查通道的待检物品进行检查；以及探测器装置，包括：多个探测器模块，设置在支架上与第一X射线加速器和第二X射线加速器面对的位置，用于接收至少一部分第一X射线和/或第二X射线，以形成待检物品的透射图像；其中，第一X射线、第二X射线及探测器装置中的探测器模块构造成位于同一平面内。还提供一种应用于安检设备的安检方法。 |
