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一种微针浮动测试工具及测试模组

基本信息

申请号 CN202111342103.2 申请日 -
公开（公告）号 CN114152783A 公开（公告）日 2022-03-08
申请公布号 CN114152783A 申请公布日 2022-03-08
分类号 G01R1/073（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 戴安泰;陆燕;吴振乾 申请（专利权）人 环维电子（上海）有限公司
代理机构 上海硕力知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 林晓青
地址 201203上海市浦东新区金桥出口加工区龙桂路501号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种微针浮动测试工具及测试模组，测试工具包括：上盖组件；载板组件，上盖组件与载板组件压合或分离；载板组件从下至上依次包括固定板、PCB转接板、下针板、若干测试探针、上针板和芯片载板；上针板设置在固定板上，且上针板和固定板之间设置有若干复位弹簧，芯片载板的上表面设置有芯片槽，用于放置测试芯片，芯片载板上开设有探针孔，测试探针固定于下针板上，上盖组件和载板组件压合时，上针板和固定板接触，复位弹簧压缩，测试探针伸出芯片载板；上盖组件和载板组件分离时，上针板和固定板分离，复位弹簧复位，测试探针隐藏于探针孔内。该方案能够使芯片的取放更方便，且能够避免探针破孔，避免影响芯片的测试结果。