一种芯片测试治具
基本信息
| 申请号 | CN201911064843.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110673020B | 公开（公告）日 | 2021-10-22 |
| 申请公布号 | CN110673020B | 申请公布日 | 2021-10-22 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 吴永青;吴鹏杰;戴安泰;张亮亮 | 申请（专利权）人 | 环维电子（上海）有限公司 |
| 代理机构 | 上海硕力知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 董磊 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区金桥出口加工区龙桂路501号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种芯片测试治具，包括：底座，所述底座内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；上盖，所述上盖为框架结构，与所述底座的后侧边铰接，前侧面设有凹槽；压板，安装在所述上盖的下端面，并与所述测试嵌套的芯片安装槽配合，用于压紧测试芯片；按压件，所述按压件铰接在所述上盖的上端面中心线上；手柄，所述手柄的固定端与所述按压件铰接，按压或提起所述手柄的自由端，带动所述按压件靠近所述上盖或远离所述上盖的方向转动；卡合件，与所述手柄连接。本发明通过在上盖上设置挤压件、手柄及连接在手柄上的鱼钩件，使上盖与底座扣合，从而将测试芯片压紧，省力方便。 |
