一种4G信号测试探针
基本信息
| 申请号 | CN201720139958.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN206601414U | 公开（公告）日 | 2017-10-31 |
| 申请公布号 | CN206601414U | 申请公布日 | 2017-10-31 |
| 分类号 | G01R1/06(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 蒋卫兵;王坚;刘育璋;戴云;刘健康 | 申请（专利权）人 | 苏州微缜电子科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 215000 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区02幢（NW-02）103室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种4G信号测试探针，具有筒状针保持体、上探针头和下探针头，所述下探针头通过挤压方式固定在筒状针保持体上，位于所述上探针头和下探针头之间设有弹簧，本实用新型由于这种新型探针采用钯合金经特殊热处理工艺后制作而成，因此整个探针头部硬度很高，里面的分子结构很致密，耐磨损，适合镍钯金材质的芯片测试，有效的保证了测试阻值的稳定性，解决了现有技术中探针对镍钯金材质芯片的测试困难的问题，满足的测试的功能以及满足了半导体高硬度探针的要求。 |
