一种高频测试插座
基本信息
| 申请号 | CN201710083872.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106771409A | 公开（公告）日 | 2017-05-31 |
| 申请公布号 | CN106771409A | 申请公布日 | 2017-05-31 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 蒋卫兵;王坚;刘育璋;戴云;刘健康 | 申请（专利权）人 | 苏州微缜电子科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 215000 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区02幢（NW-02）103室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种高频测试插座，具有测试座主体，所述测试座主体内设有高频探针，所述高频探针为两头具有弯曲结构，所述高频探针的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触，高频探针组装在测试座主体里，高频探针经过变形组装到测试座主体里，高频探针的一段与芯片接触，另一端与PCB接触，从而实现高频信号的传递；由于这种高频探针的结构有别于传统的探针，这种高频探针传输是通过弹簧丝传递的，与其它传统探针相比，减少了传输环节，因此具有稳定的容抗和感抗。 |
