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一种CT检测系统的缺陷检出性能极限评估方法

基本信息

申请号	CN201910334850.8	申请日	-
公开（公告）号	CN110060293B	公开（公告）日	2022-06-28
申请公布号	CN110060293B	申请公布日	2022-06-28
分类号	G06T7/62（2017.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06K9/62（2022.01）I	分类	计算；推算；计数;
发明人	齐子诚;倪培君;郑颖;余琼;付康;左欣;唐盛明;郭智敏;李红伟;马兰	申请（专利权）人	中国兵器科学研究院宁波分院
代理机构	宁波诚源专利事务所有限公司	代理人	-
地址	315103浙江省宁波市高新区凌云路199号
法律状态	-

摘要

本发明涉及一种CT检测系统的缺陷检出性能极限评估方法，以对比试块的CT图像垂直界面一维点扩散函数的中心位置为圆心进行周向旋转，获得二维点扩散函数；再通过理想缺陷灰度分布二维图像与二维点扩散函数进行卷积得到理想退化缺陷灰度分布二维图像；并获得理论含噪声缺陷灰度分布函数，在缺陷与材料的灰度峰值之间寻找谷值，计算谷值与缺陷峰值对应的灰度值之比，根据瑞利判据判断出当灰度值小于N时，则缺陷可被检出；在被检工件的CT图像中，建立缺陷直径与灰度值之比的关系曲线；提取出中灰度值之比为N时对应的缺陷直径，该缺陷直径为该被检工件的理论缺陷检测极限。该评估方法更加可靠，高效，且自动化程度高，检测成本低，检测精度高。