一种颗粒物不规则程度表征的光学模拟系统及方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种颗粒物不规则程度表征的光学模拟系统及方法

基本信息

申请号	CN202110786218.4	申请日	-
公开（公告）号	CN114047101B	公开（公告）日	2022-06-10
申请公布号	CN114047101B	申请公布日	2022-06-10
分类号	G01N15/00（2006.01）I;G01N15/02（2006.01）I;G06F17/16（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	潘小乐;田雨;王自发	申请（专利权）人	中国科学院大气物理研究所
代理机构	北京市盛峰律师事务所	代理人	-
地址	100029北京市朝阳区德胜门外祁家豁子华严里40号楼
法律状态	-

摘要

本发明提供一种颗粒物不规则程度表征的光学模拟系统及方法，涉及大气监测技术领域，包括入射光模块、散射测量腔和强度检测模块；所述入射光模块、散射测量腔和强度检测模块同轴设置；所述散射测量腔内设置有前向散射光测量模块和后向散射光退偏比测量模块，所述前向散射光测量模块和所述后向散射光退偏比测量模块与激光发射方向呈角度设置。本发明设计经过严密的T‑Matrix光学模型计算，合理布局光学镜片的位置，经实验室反复测算，保证较高的仪器信噪比。通过建立合理镜片组安置顺序，采用准直透镜和聚光透镜的组合，达到实时、有效探测环境颗粒物不规则程度的设计目标，并将数据实时传入远程监控中心，一定程度上提高了大气污染物不规则程度探测水平。