表盘缺陷检测方法、装置、图像处理设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN201911114254.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110866911A | 公开（公告）日 | 2020-03-06 |
| 申请公布号 | CN110866911A | 申请公布日 | 2020-03-06 |
| 分类号 | G06T7/00;G06T7/10;G06T5/40;G06T7/90;G06K9/62;G06K9/46 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 冯宇;刘洪;赵利博 | 申请（专利权）人 | 华雁智能科技（集团）股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 华雁智能科技（集团）股份有限公司 |
| 地址 | 四川省成都市高新区天华二路219号天府软件园C区10号楼16层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例提出一种表盘缺陷检测方法、装置、图像处理设备及存储介质，涉及计算机视觉技术领域。该方法及装置通过对获取的原始图像进行预处理得到预处理图像，然后基于预存储的第一标准图像，对预处理图像进行几何变换得到变换图像，接着基于预存储的第二标准图像，从变换图像中定位得到目标图像区域，接着根据目标图像区域得到归一化特征，最后对归一化特征进行分类以确定原始图像是否包含缺陷。通过上述方法实现对表盘缺陷的自动检测，既能有效减少人为检测导致的误检、漏检等情况，还能减少人力成本，并提高检测效率。 |
