金属化薄膜测试仪
基本信息
| 申请号 | CN01225863.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN2532487Y | 公开（公告）日 | 2003-01-22 |
| 申请公布号 | CN2532487Y | 申请公布日 | 2003-01-22 |
| 分类号 | G01N27/00;G01N27/04;G01R31/12 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 顾志军;余柏南;杨成荣 | 申请（专利权）人 | 安徽铜峰电子集团有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 244000安徽省铜陵市石城路117号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种金属化薄膜测试仪，由高压发生器、电压取样电路、电压显示电路、过流保护电路、测试电极和工作台组成，其固定电极为具有一定表面积的导电板。工作台上还设有方阻测试装置，及表面质量观察装置，工作台一端连有膜卷支架。本实用新型采用大面积的导电板作电极，测量的耐压值可真实地反映薄膜实际耐压情况，另外将方阻测试、表面质量检查及静电吸附检查设备集中在一个工作台上，占用空间小，便于测试和管理。 |
